X射线镀层测厚仪标准片
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测厚仪标准片又名膜厚仪校准片,专业用于测厚仪（膜厚仪）在测金属镀层厚度的时候进行标准化校准.也就是我们在膜厚测试中常用的标准曲线法,是测量已知厚度或组成的标准样品，根据荧光x-射线的能量和强度及相应镀层厚度的对应关系，来得到标准曲线。之后以此标准曲线来测量未知样品，以得到镀层厚度或组成比率。对于pcb,五金电镀,半导体等行业使用测厚仪来检测品质和控制成本起到了很重要的作用。测厚仪标准片一般分为单镀层片，双镀层片,多镀层片,合金镀层片,化学镀层片。如 单镀层ag/xx, 双镀层au/ni/xx , 三镀层au/pd/ni/xx, 合金镀层sn-pb/xx, 化学镀层ni-p/xx. 我们可以根据客户不同的金属元素,镀层结构,镀层厚度等要求向美国工厂定做标准片,并可出据标准片厚度值证书. 我公司是一精密测试仪器代理商，为香港仪高集团附属成员. 我集团在中国和香港地区独家代理韩国micro pioneer xrf-2000系列x-射线测厚仪及德国roentgenanalytik compact eco系列x-射线测厚仪。此两种仪器主要用于镀层或涂层厚度的测量，而且特别适合于对微细表面积或超薄镀层的测量。